電力系統(tǒng)許多大電流電氣設(shè)備在預(yù)防性試驗(yàn)和交接試驗(yàn)中需要準(zhǔn)確測(cè)量回路的電阻值。斷路器是電力系統(tǒng)重要的電氣設(shè)備，依照*標(biāo)準(zhǔn)《JJG1052-2009回路電阻檢定規(guī)程》、國(guó)標(biāo)GB763、GB50150和電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T596對(duì)斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量均作了規(guī)定:應(yīng)采用直流壓降法測(cè)量，電流不小于100A。
 

　　斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的測(cè)量 有許多種方法。日本學(xué)者Isao Minowa提出用超導(dǎo)量子器件測(cè)量接觸電阻，H.Archi提出利用電解槽法測(cè)量接觸電阻，波蘭學(xué)者 Jerzy Kaczarek提出用三次諧波法測(cè)量接觸電阻，這些方法一般是在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行電接觸研究所采用的方法。工程中，通常采用四端子法來(lái)測(cè)量 實(shí)際觸點(diǎn)的接觸電阻。
 

　　以前，通常采用直流雙臂 電橋測(cè)量斷路器的接觸電阻。但是，當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí)，由于雙臂電橋測(cè)量回路通過(guò)的是微弱的電流，難以消除電阻較大的氧化膜， 測(cè)出的電阻示值偏大，但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿，不妨礙正常電流通過(guò)。因此，測(cè)試采用直流壓降法測(cè)試時(shí)，電流不得太小。
 

　　高壓斷路器導(dǎo)電 回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的 載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此，使用回路電阻測(cè)試儀測(cè)試斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修、質(zhì)量驗(yàn)收的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)。
 

　　由于開(kāi)關(guān)觸頭之間存在氧 化膜，如果用較小的電流檢測(cè)，由于氧化膜的影響測(cè)試結(jié)果一般偏大很多，但氧化膜在大電流下是能被擊穿的，理論上，測(cè)試電流只要不超過(guò)額定電流，應(yīng)該是越大 越好，但規(guī)程在制定的時(shí)候考慮到當(dāng)時(shí)國(guó)內(nèi)相關(guān)儀器的生產(chǎn)水平，作出了不得小于100A電流的規(guī)定。